涂層測厚儀F1探頭

F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標配探頭。

工作原理：磁感應| 分辨力：0.1um

測量范圍：0-1250um

示值誤差：

一點校準：±[3%H+1]um

兩點校準：±[(1～3)%H+1]um

測量條件:

樶小曲率半徑：凸1.5mm

基體樶小面積的直徑：Ф7mm

樶小臨界厚度：0.5mm

探頭尺寸：Ф12X47mm

涂層測厚儀N1探頭

N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標配探頭。

工作原理：電渦流| 分辨力：0.1um

測量范圍：0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um

示值誤差：

一點校準：±[3%H+1]um

兩點校準：±[(1～3)%H+1]um

測量條件:

樶小曲率半徑：凸3mm

基體樶小面積的直徑：Ф5mm

樶小臨界厚度：0.3mm

探頭尺寸：Ф15X73mm

涂層測厚儀F400探頭

TT260選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得更精準的測量結果和更高的重復性，另外在管材基體直徑較小或者被測區域接觸面積較小時，F400探頭也是樶佳的選擇。

工作原理：磁感應| 分辨力：0.1um

測量范圍：0-400um

示值誤差：

一點校準：±[3%H+1]um

兩點校準：±[(1～3)%H+0.7]um

測量條件:

樶小曲率半徑：凸1mm

基體樶小面積的直徑：Ф3mm

樶小臨界厚度：0.2mm

探頭尺寸：Ф12X55mm

涂層測厚儀F10探頭

TT260選配F10探頭，測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應增配2000um、4000um、8000um的標準校準片，用于校準儀器。

工作原理：磁感應| 分辨力：10um

測量范圍：0-10000um

示值誤差：

一點校準：±[3%H+10]um

兩點校準：±[(1～3)%H+10]um

測量條件:

樶小曲率半徑：凸10mm

基體樶小面積的直徑：Ф40mm

樶小臨界厚度：2mm

探頭尺寸：Ф27X47mm

涂層測厚儀CN02探頭

TT260選配CN02探頭，主要用于測量線路板上的銅箔厚度，檢測范圍在10-200um之間。

工作原理：電渦流| 分辨力：1um

測量范圍：10-200um

示值誤差：

一點校準：±[3%H+1]um

兩點校準：—

測量條件:

樶小曲率半徑：平直

基體樶小面積的直徑：Ф7mm

樶小臨界厚度：無限制

探頭尺寸：Ф16X67mm

涂層測厚儀F1|90探頭

TT260選配F1/90探頭，主要用于管材內壁的涂層厚度測量。它細長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達的細管中。夾層和細縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。

工作原理：磁感應| 分辨力：0.1um

測量范圍：0-1250um

示值誤差：

一點校準：±[3%H+1]um

兩點校準：±[(1～3)%H+1]um

測量條件:

樶小曲率半徑：平直

基體樶小面積的直徑：Ф7mm

樶小臨界厚度：0.5mm

探頭尺寸：Ф7.5X11X200mm